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CME-Mo系列光谱仪/单色仪特点：
◆ 150mm，300mm，500mm，750mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；
◆光学结构采用经典的Czerny-Turner结构，有效改善谱线对称性和提高光学分辨率，消二次色散设计，有效抑制杂散光；
◆多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要组合以满足不同；
◆光栅采用大面积光栅，有效提高了收集光效率；
◆多种光栅可以选择，适应不同光谱波段，覆盖UV-VIS-IR范围；
◆针对红外（>1μm）波段的***化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；
◆仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制；
◆全新的DSP芯片设计使得出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入-出口；双入-出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；
◆可连接我公司任意一款单点探测器和其它附件，还可以连接线阵、面阵探测器做摄谱仪使用。与光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统组合方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等；
◆配有充氮气专用口，便于在紫外和近红外有大气吸收谱的波段范围内使用；
◆光学室和机械传动室严格分开，避免后者产生杂散光及润滑油微量挥发对光学件的污染；
◆可选：自动滤光轮、电子快门、自动狭缝。
技术参数表（@1200g/mm光栅条件下）
CME-Mo150 | CME-Mo300 | CME-Mo500 | CME-Mo750 | |
λ焦距(mm) | 150 | 300 | 500 | 750 |
相对孔径 | f/4.2 | f/3.9 | f/6.5 | f/9.7 |
光学结构 | C-T | |||
机械扫描范围(nm) | 0-2200 | 0-3200 | ||
分辨率(nm) | 0.4 | 0.1 | 0.05 | 0.03 |
倒线色散(nm/mm) | 5.4 | 2.7 | 1.7 | 1.1 |
波长准确度(nm) | ±0.25 | ±0.2 | ||
波长重复性(nm) | ±0.1 | ±0.1 | ||
扫描步距(nm) | 0.01 | 0.005 | ||
焦面尺寸(mm) | 25(W)×10(H) | 25(W) ×14(H) | ||
光轴高度(mm) | 134 | |||
狭缝规格 | 缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，10，14mm可选。 | |||
光栅尺寸(mm) | 32×32 | 68×68 | ||
光栅台 | 双光栅 | 三光栅 | ||
外型尺寸(mm) | 298×200×185 | 390×278×204 | 560×320×204 | 800×450×204 |
重量(kg) | 10 | 16 | 22 | 32 |
光路图：
应用软件：
◆ 任意的波长定位功能 任意的波长定位功能使得用户可以自由地定位到目标波长位置，方便用户做定点波长分析。
1. 由选择已安装的光栅进行切换，并可以设定各块光栅的切换位置。
2. 256 个等级的运行速度选择。
3. 波长定位功能 ：目标方式，相对移动方式。
4. 光谱仪调试运行过程中，用户随时可以停止光谱仪的运行。
◆ 滤光片的自动选择功能 在波长扫描过程中，滤光片组会自动选择一档合适的滤光片，使得谱仪能够自动进行多级光谱滤波的功能。
1. 用户可以自由设定滤光片的定位位置。
2. 用户可以自由设定滤光片的工作范围。
◆ 开机自动定位功能 用户可以设定仪器的开机定位位置 ：上次关机的位置或者指定位置。
◆ 光谱扫描功能
3. 能一次控制多台设备即
4. 扫描方案可单光栅、连续光栅或跨光栅对各个波段进行顺序扫描。
5. 扫描方案中起始波长、扫描间隔、终止波长由客户自由设定。
6. 用户可以随时终止扫描状态。
7. 可以对指定波长进行多次采样，测定稳定度。
8. 采集到的数据可同时图谱显示和表格显示。
9. 可以自由地对图谱中的数据曲线可以进行任意地放大和缩小，隐藏和显示。
10. 谱线数据可以直接拷贝然后粘贴到 Excel 中，使用户能够进行更多的***处理功能。
11. 用户可以观察任一曲线上任一点的坐标值。
